超声波测厚仪(先进型)

符合超声波测厚仪国家计量校准规范

探头实时温度补偿, 消除探头温度变化引起的测量误差

支持单晶和双晶探头, 既可对超薄工件进行精确测量, 又能兼顾大量程测量

可穿透涂层测量

测量模式: 常规厚度测量(双晶探头P-E模式、单晶测头I-E模式); 穿透涂层厚度测量(双晶探头I-E模式、单晶测头E-E或AUTO模式)

测量方式: 单点测量、扫描测量、差值测量

设定上下限, 超限报警

具有单点校准和两点校准功能, 可对系统误差进行自动修正

支持键盘锁功能, 避免测量过程中误触导致参数设置变化

可存储1000组测量数据

内置蓝牙模块及Mini-USB接口，与电脑连接进行有线、无线数据传输